氧化物材料多功能光谱测试系统
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13548/小时总时长
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5/人收藏者
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收费标准
机时0元/小时 -
设备型号
LabRAM HR Evolution -
当前状态
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管理员
姜凯,胡志高 021-54345150 -
放置地点
- 仪器信息
- 预约资源
- 检测项目
- 附件下载
- 公告
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名称
氧化物材料多功能光谱测试系统
资产编号
18005682
型号
LabRAM HR Evolution
规格
LabRAM HR Evolution|| ||LabRAM HR Evolution
产地
法国
厂家
法国HORIBA JOBIN YVON SAS公司
所属品牌
出产日期
购买日期
所属单位
材料科学系
使用性质
科研
所属分类
上报
资产负责人
姜凯 胡志高
联系电话
021-54345150
联系邮箱
zghu@ee.ecnu.edu.cn
放置地点
- 主要规格&技术指标
- 主要功能及特色
- 样本检测注意事项
- 设备使用相关说明
- 备注
主要规格&技术指标
1) 光谱分辨率：可见全谱段≤0.65 cm-1；近红外光谱分辨率≤0.35 cm-1；紫外全谱段≤1.6 cm-1。
2) 灵敏度：硅三阶峰的信噪比好于20:1，并能观察到四阶峰。
3) 光谱范围：220-2100 nm，全光谱范围内可快速连续扫描，无接谱。
4) 光谱重复性：优于±0.03 cm-1。
5) 配置325 nm，532 nm，633 nm和785 nm激发波长干涉滤光片和两个瑞利滤光片，滤除等离子线和瑞利散射。
2) 灵敏度：硅三阶峰的信噪比好于20:1，并能观察到四阶峰。
3) 光谱范围：220-2100 nm，全光谱范围内可快速连续扫描，无接谱。
4) 光谱重复性：优于±0.03 cm-1。
5) 配置325 nm，532 nm，633 nm和785 nm激发波长干涉滤光片和两个瑞利滤光片，滤除等离子线和瑞利散射。
主要功能及特色
1) 高质量氧化物薄膜、铁电/半导体异质结及新型光电探测器件的表征；
2) 系统性研究氧化物薄膜材料的光电磁耦合特性和自旋相关现象；
3) 探索微纳尺度下的光电耦合新效应及外场调控规律等。
2) 系统性研究氧化物薄膜材料的光电磁耦合特性和自旋相关现象；
3) 探索微纳尺度下的光电耦合新效应及外场调控规律等。
样本检测注意事项
凝聚态物理；光电子器件；微电子学
设备使用相关说明
1000元
备注
网上预约；周三下午
预约资源
检测项目
附件下载
公告
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