变温探针台测试系统
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33/人使用者
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1048/次总次数
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16632/小时总时长
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6/人收藏者
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收费标准
机时0元/小时 -
设备型号
ST-500-UHT-(4TX-2FO) -
当前状态
-
管理员
胡志高,张金中 021-54345150 -
放置地点
闵行校区信息楼105
- 仪器信息
- 预约资源
- 检测项目
- 附件下载
- 公告
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名称
变温探针台测试系统
资产编号
17006928
型号
ST-500-UHT-(4TX-2FO)
规格
ST-500-UHT-(4TX-2FO)|| ||ST-500-UHT-(4TX-2FO)
产地
美国
厂家
美国Janis公司
所属品牌
出产日期
购买日期
所属单位
材料科学系
使用性质
科研
所属分类
上报
资产负责人
张金中 胡志高
联系电话
021-54345150
联系邮箱
zghu@ee.ecnu.edu.cn
放置地点
闵行校区信息楼105
- 主要规格&技术指标
- 主要功能及特色
- 样本检测注意事项
- 设备使用相关说明
- 备注
主要规格&技术指标
1) 温度范围：~8K-675K(液氦制冷)；~80-675K(液氮制冷)；
2) 样品振动大小：≤ ±25nm；
3) 样品位置漂移：≤ ±60nm @ 30min；
4) 三同轴探针臂的漏电性能：≤ 10fA；
5) 样品控温稳定性：≤ ±50mK
2) 样品振动大小：≤ ±25nm；
3) 样品位置漂移：≤ ±60nm @ 30min；
4) 三同轴探针臂的漏电性能：≤ 10fA；
5) 样品控温稳定性：≤ ±50mK
主要功能及特色
(1) 高质量氧化物薄膜、铁电/半导体异质结及新型光电探测器件的电学特性表征；
(2) 系统性研究氧化物薄膜材料及纳米器件的光电耦合特性；
(3) 从实验上探索微纳尺度下的光电耦合新效应及外场调控规律等。
(2) 系统性研究氧化物薄膜材料及纳米器件的光电耦合特性；
(3) 从实验上探索微纳尺度下的光电耦合新效应及外场调控规律等。
样本检测注意事项
微纳器件的电学特性
设备使用相关说明
5000元/片
备注
依据上海市研发公共服务平台的规定执行
预约资源
检测项目
附件下载
公告
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