红外光谱椭偏仪
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272/次总次数
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6373/小时总时长
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6/人收藏者
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收费标准
机时0元/小时 -
设备型号
IR-VASE -
当前状态
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管理员
胡志高,张金中 021-54345150 -
放置地点
- 仪器信息
- 检测项目
- 附件下载
- 公告
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名称
红外光谱椭偏仪
资产编号
13002932
型号
IR-VASE
规格
IR-VASE|| ||IR-VASE
产地
美国
厂家
美国沃兰(J.A. Woollam Co., Inc.)公司
所属品牌
美国沃兰(J.A. Woollam Co., Inc.)公司
出产日期
购买日期
2012-02-01
所属单位
材料科学系
使用性质
科研
所属分类
上报
资产负责人
胡志高 张金中
联系电话
021-54345150
联系邮箱
zghu@ee.ecnu.edu.cn
放置地点
- 主要规格&技术指标
- 主要功能及特色
- 样本检测注意事项
- 设备使用相关说明
- 备注
主要规格&技术指标
1) 测量范围：Ψ (0~90º)；Δ (0～360º)，无死区；
2) 准确性：在2~29 μm光谱范围内，入射角为90°，测量空气时45°± 0.14°，0°± 0.6°；
3) 红外分光光度计可实现独立的透射测量。
2) 准确性：在2~29 μm光谱范围内，入射角为90°，测量空气时45°± 0.14°，0°± 0.6°；
3) 红外分光光度计可实现独立的透射测量。
主要功能及特色
表征铁电材料和宽带隙半导体材料的红外光谱光学常数和介电常数。
样本检测注意事项
红外光学常数
设备使用相关说明
1000元
备注
见上海市公共研发平台要求
检测项目
附件下载
公告
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