全矩阵穆勒光谱扫描测量仪
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18/人使用者
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550/次机时次数
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4082/小时总时长
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8/次送样次数
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5/人收藏者
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收费标准
机时0元/小时送样详见检测项目 -
设备型号
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当前状态
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管理员
崔晓燕,王维康 33503206 -
放置地点
闵行校区实验D楼105-107
- 仪器信息
- 预约资源
- 检测项目
- 附件下载
- 公告
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名称
全矩阵穆勒光谱扫描测量仪
资产编号
21016014
型号
规格
全矩阵|| ||*
产地
美国
厂家
美国Hinds公司
所属品牌
出产日期
购买日期
所属单位
物质表征中心
使用性质
科研
所属分类
上报
资产负责人
崔晓燕
联系电话
33503206
联系邮箱
xycui@chem.ecnu.edu.cn
放置地点
闵行校区实验D楼105-107
- 主要规格&技术指标
- 主要功能及特色
- 样本检测注意事项
- 设备使用相关说明
- 备注
主要规格&技术指标
线性延迟测量范围：0-最大可达测量范围波长的1/2λ
线性延迟分辨率/可重复性：≤0.1 nm / ±1 nm
最优线性延迟角分辨率/重复性：≤0.1° / ±0.6°
旋光度（1/2圆偏延迟）范围：-90° to +90°
线性延迟分辨率/可重复性：≤0.1 nm / ±1 nm
最优线性延迟角分辨率/重复性：≤0.1° / ±0.6°
旋光度（1/2圆偏延迟）范围：-90° to +90°
主要功能及特色
主要用于研究有机/无机材料的偏振特性, 通过调制解调测量获得材料16组全部穆勒矩阵高精度结构信息，可应用于复杂内部结构光学组件、各种双折射/倍频晶体、复杂层级 LCD、同晶晶体、各向异性晶体、化学和生物光学各向异性材料、由磁场/电场引起的各向异性样品等系统的手性分析、样品特性评估、产品双折射等特性参数测量
样本检测注意事项
主要用于各类样品偏振信号分析测试
设备使用相关说明
固体光谱分析：校内500元/样品，校外1000元/样品
备注
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