场发射聚焦离子束电子显微镜
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84/人使用者
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3074/次机时次数
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15554/小时总时长
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91/次送样次数
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79/人收藏者
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收费标准
机时分段计费送样详见检测项目 -
设备型号
Hellios G4 UX -
当前状态
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管理员
齐瑞娟,王奕文,巩志伟,赵玉叶 54345398 -
放置地点
闵行校区生物馆电镜中心YX101
- 仪器信息
- 预约资源
- 检测项目
- 附件下载
- 公告
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名称
场发射聚焦离子束电子显微镜
资产编号
18000409
型号
Hellios G4 UX
规格
Hellios G4 UX|| ||*
产地
美国
厂家
美国FEI
所属品牌
出产日期
购买日期
2016-08-10
所属单位
电镜中心
使用性质
科研
所属分类
上报
资产负责人
齐瑞娟
联系电话
54345398
联系邮箱
rhuang@ee.ecnu.edu.cn
放置地点
闵行校区生物馆电镜中心YX101
- 主要规格&技术指标
- 主要功能及特色
- 样本检测注意事项
- 设备使用相关说明
- 备注
主要规格&技术指标
Ion beam system
Sourece：liquid Ga；
Resolution：≤2.5nm @ 30kV
GIS system
Pt、C、W、SiO2
SEM system
Schottky thermal field emmision gun（ZrO/W）
Resolution: ≤0.6nm @ 15kV, ≤0.7nm @ 1kV, ≤1.0nm @ 500V
STEM resolution：≤0.6nm @ 30Kv
Sourece：liquid Ga；
Resolution：≤2.5nm @ 30kV
GIS system
Pt、C、W、SiO2
SEM system
Schottky thermal field emmision gun（ZrO/W）
Resolution: ≤0.6nm @ 15kV, ≤0.7nm @ 1kV, ≤1.0nm @ 500V
STEM resolution：≤0.6nm @ 30Kv
主要功能及特色
SEM
EDS
EBSD
微纳加工
透射电镜制样
EDS
EBSD
微纳加工
透射电镜制样
样本检测注意事项
SEM观察
EDS分析
EBSD分析
微纳加工
透射电镜制样
EDS分析
EBSD分析
微纳加工
透射电镜制样
设备使用相关说明
成像观察、离子束加工、能谱分析等：校内500元/小时，校外1000元/小时
备注
按照学校规定进行预约和使用
预约资源
检测项目
附件下载
公告
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