光谱型椭偏仪
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17/人使用者
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360/次总次数
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7158/小时总时长
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7/人收藏者
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收费标准
机时0元/小时 -
设备型号
V-VASE -
当前状态
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管理员
胡志高,张金中 021-54345150 -
放置地点
- 仪器信息
- 检测项目
- 附件下载
- 公告
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名称
光谱型椭偏仪
资产编号
13002933
型号
V-VASE
规格
V-VASE|| ||V-VASE
产地
美国
厂家
美国沃兰(J.A. Woollam Co., Inc.)公司
所属品牌
美国沃兰(J.A. Woollam Co., Inc.)公司
出产日期
购买日期
2011-11-01
所属单位
材料科学系
使用性质
科研
所属分类
上报
资产负责人
胡志高 张金中
联系电话
021-54345150
联系邮箱
zghu@ee.ecnu.edu.cn
放置地点
- 主要规格&技术指标
- 主要功能及特色
- 样本检测注意事项
- 设备使用相关说明
- 备注
主要规格&技术指标
1) 测量范围Ψ：0-90º；∆：0-360º；
2) 自动可变入射角(入射光与样品法线夹角)：20-90º。
2) 自动可变入射角(入射光与样品法线夹角)：20-90º。
主要功能及特色
测量各种凝聚态薄膜材料的厚度以及表面粗糙度，对薄膜材料的微观结构进行非破坏性表征等。可以进行相应的扩展，实现对薄膜生长的实时控制测量等。
样本检测注意事项
紫外-可见光学常数
设备使用相关说明
500元
备注
见上海市公共研发平台要求
检测项目
附件下载
公告
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