场发射透射电子显微镜
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收费标准
机时免费送样详见检测项目 -
设备型号
Tecnai G2 F30 -
当前状态
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管理员
陈丽 62237833 -
放置地点
中山北路校区化学馆B114
- 仪器信息
- 预约资源
- 检测项目
- 附件下载
- 公告
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名称
场发射透射电子显微镜
资产编号
16006272
型号
Tecnai G2 F30
规格
Tecnai G2 F30|| ||*
产地
美国
厂家
美国FEI公司
所属品牌
出产日期
购买日期
2016-09-21
所属单位
上海市绿色化学与化工过程绿色化重点实验室
使用性质
科研
所属分类
上报
资产负责人
薛腾 陈丽
联系电话
62237833
联系邮箱
chenli@chem.ecnu.edu.cn
放置地点
中山北路校区化学馆B114
- 主要规格&技术指标
- 主要功能及特色
- 样本检测注意事项
- 设备使用相关说明
- 备注
主要规格&技术指标
加速电压：300KV 电子枪：肖特基场发射电子枪
分辨率: 点分辨率：0.205 nm 线分辨率：0.102 nm
信息分辨率：0.14nm HR STEM分辨率：0.16nm
放大倍数: TEM 模式 60X—1000KX
HAADF STEM模式 200X—100M
分辨率: 点分辨率：0.205 nm 线分辨率：0.102 nm
信息分辨率：0.14nm HR STEM分辨率：0.16nm
放大倍数: TEM 模式 60X—1000KX
HAADF STEM模式 200X—100M
主要功能及特色
Tecnai G2 F30 是一个真正多功能，多用户环境的先进仪器。它将各种透射电镜技术(包括TEM、HRTEM、STEM、HRSTEM、电子衍射、EFTEM、EDX、一体化，形成强大的分析功能。除了具有200kV的各种优点外，Tecnai G2 F30提供了300kV的加速电压，可分析更厚、更具挑战性的样品。Tecnai G2 F30可以在原子尺度的分辨率下对材料进行高质量、高稳定性的显微形貌、晶体结构和相组织的观察与分析，及各种材料微区化学成分的定性和定量检测。
样本检测注意事项
电镜扫描，样品表征
设备使用相关说明
形貌分析：350元/样品，HRTEM分析：500元/样品，能谱分析：1000元/样品
备注
用户申请预约安排时间
预约资源
检测项目
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公告
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